Kjøp bok
Selg boken i stedet
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
- Av
- N, Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, D.C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda C. Sawyer, J.R. Michael, J.r. (sandia National Laboratories, Albuquerque
- Forlag
- Springer Science+Business Media
- ISBN
- 9780306472923
- Utgitt
- 2002, Innbundet
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.