Kjøp bok
Selg boken i stedet
Electron Microscopy and Analysis, Third Edition
- Av
- Peter J. Goodhew, L.E. Cartwright, R. Beanland, F. J. Humphreys
- Forlag
- Taylor & Francis Group
- ISBN
- 9780748409686
- Utgitt
- 2000 (3. utgave), Myk perm
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.