Kjøp bok
Selg boken i stedet
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
- Av
- Angela Krstic, Kwang-Ting Cheng
- Forlag
- Kluwer Academic Publishers
- ISBN
- 9780792382959
- Utgitt
- 1998, Innbundet
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.