Kjøp bok
Selg boken i stedet
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
- Av
- Pradeep Lall, Michael Pecht, Edward B. Hakim
- Forlag
- Taylor & Francis Inc
- ISBN
- 9780849394508
- Utgitt
- 1997, Innbundet
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.