Kjøp bok
Selg boken i stedet
Optoelectronic Characterisation of Si/SiN_1tnx Interfaces of Structured Silic…
- Av
- Richard Titus Ekai
- Forlag
- Shaker Verlag GmbH, Germany
- ISBN
- 9783826586729
- Utgitt
- 2001, Myk perm
Ikke riktig utgave? Prøv å søke etter flere utgaver.
Kjøp ny
Kjøp brukt på iBok
Bokvarsling
Opprett bokvarslingDersom du trykker på 'Opprett bokvarsling' vil du automatisk bli varslet når noen legger ut denne boken for salg.